| 详细介绍 |
|
FISCHERSCOPE® XDLM®-C4 是一款基于Windows™ 的镀层厚度测量和材料分析的X-射线系统。测量方向从上往下。
微聚焦X-射线管以及电机带动的有4个不同尺寸视准器组成的视准器组使得XDLM®-C4成为测量大批量生产部件的理想测量仪器，例如螺丝，螺母和螺栓。可选择的钴接收器有效地解决铜上镀镍的测量应用问题
XDLM®-C4的特色是独特的距离修正测量方法。DCM方法（距离控制测量）自动地修正在不同的测量距离上光谱强度的差别，简便了测量复杂几何外形的测试工件和在不同测量距离上的测量。
与WinFTM® V.6软件及校样标准块Gold Assay结合，XDLM®-C4作为FISCHERSCOPE® GOLDLINE ASSAY的一部分， 完美地适用于快速，非破坏性和精确的测量珠宝及贵金属中金的成分。 |
| 功能描述 |
|
| 测量方向 |
从上往下 |
| X-射线管型号 |
微聚焦钨管 (MW) |
| 数准器数目 |
WM-类型: 4 |
| z-轴 |
电机驱动的或可编程的 |
| 测量台类型 |
手动XY工作台或 |
| 测试点的放大倍率 |
20 - 180 x |
| WinFTM® 版本 |
V.3 标准V.6 可选择 |
| 其它 |
|
| |
可调节的高压30kV; 40kV; 50kV
开槽的测量箱体
基本Ni滤波器(可选择)
接收器(Co)可选择的WM-版本
DCM方法(距离控制测量)
操作系统：Windows XP prof. |
  |
